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The use of pseudorandom neutron time-of-flight techniques for lattice dynamics and diffraction studies

Glaeser, W.; Gompf, F.; Drexel, W.; Beckurts, K.H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1969
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170003339
Erscheinungsvermerk Topical meeting on chemical and physical aspects of neutron diffraction des 8. Intern. Kongresses f. Kristallographie in Brookhaven, 23.8.1969
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