Zugehörige Institution(en) am KIT | Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1970 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170004513 |
Seiten | 135-45 |
Erscheinungsvermerk | 1970 Annual Symp. on Reliability,Los Angeles,Calif., Febr. 3-5, 1970. Proceedings. (New York,N.Y.: Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1970.) |