Test Cost Minimization for Reliability Assessment
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1972 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170005773 |
| Seiten | 300-7 |
| Erscheinungsvermerk | Proceedings 1972 Annual Reliability and Maintainability Symp., San Francisco, Calif., January 25-27, 1972 (Annals of Assurance Sciences, 5, No 1(1972). New York, N.Y.: IEEE 1972.) |