Transient tests in SEFOR

Oosterkamp, W. J.; Bogensberger, H.; Wintzer, D.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1972
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170005777
Seiten	181-84
Erscheinungsvermerk	Reaktortagung, Hamburg, 11.-14. April 1972, Deutsches Atomforum e.V., Kerntechnische Ges.im Dt. Atomforum e.V., Leopoldshafen 1972: ZAED.