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Transient tests in SEFOR

Oosterkamp, W. J.; Bogensberger, H.; Wintzer, D.


Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1972
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170005777
Seiten 181-84
Erscheinungsvermerk Reaktortagung, Hamburg, 11.-14. April 1972, Deutsches Atomforum e.V., Kerntechnische Ges.im Dt. Atomforum e.V., Leopoldshafen 1972: ZAED.
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