Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Heiße Chemie (IHCH) Institut für Radiochemie (IRCH) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1974 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170007973 |
Seiten | 1-6 |
Erscheinungsvermerk | Advances in X-Ray Analysis. Vol.18. Ed.by W.L. Pickles [u.a.] 23.Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis, Denver, Colo., August 7-9, 1974. New York,N.Y.: Plenum Publ.Corp.1975.S.62-75. AED-CONF-74-334-018 Siemens, Analytical Application Note, No 139(1975) |