Surface analysis of ion bombarded metal foils by XPS

Henrich, E.; Schmidt, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Heiße Chemie (IHCH)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1976
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170010274
Seiten	675-84
Erscheinungsvermerk	Meyer, O., Linker, G., KAEPPELER, F.[Hrsg.]: Ion Beam Surface Layer Analysis. 2. Internat.Conf., Karlsruhe, September 15-19, 1975. Vol. 2. New York[usw.]: Plenum Pr. 1976.