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Ion beam surface layer analysis. Proc.of the 2.internat.conf., Karlsruhe, September 15-19, 1975. Vol. 2

Meyer, O.; Linker, G.; Kaeppeler, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 1976
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170010370
Erscheinungsvermerk New York[usw.]: Plenum Pr. 1976. XVII
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