Dynamic analysis and test data generation in an automatic test system
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1980 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170012260 |
| Seiten | 31-48 |
| Erscheinungsvermerk | Raulefs, P. [Hrsg.] Workshop on Reliable Software. 2.Meeting of the German Chapter of the ACM, Bonn, September 22-23, 1978. Muenchen: Hanser 1979. (Applied Computer Science. 14) |