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Dynamic analysis and test data generation in an automatic test system

Gmeiner, L.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1980
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170012260
Seiten 31-48
Erscheinungsvermerk Raulefs, P. [Hrsg.] Workshop on Reliable Software. 2.Meeting of the German Chapter of the ACM, Bonn, September 22-23, 1978. Muenchen: Hanser 1979. (Applied Computer Science. 14)
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