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Scanning system for a 5 MeV electron microscope

Strojnik, A.; Passow, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1978
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170012795
Erscheinungsvermerk Scanning electron microscopy. Chicago,Ill.: IIT Research Inst. 1978, 1., S.292, S.319-324
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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