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Statistical analysis of alternative data evaluation schemes. Part III: numerical example with MUF-D- and bivariate (D,MUF)-tests

Beedgen, R.; Neu, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1980
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170014781
Seiten 194-201
Erscheinungsvermerk 2nd Annual Symp.on Safeguards and Nuclear Material Management, Proc., Edinburgh, GB, March 26-28, 1980. ESARDA-11(1980)
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