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Statistical analysis of alternative data evaluation schemes. Part IV: verification of large and small defects with different measurement methods

Austen, M.; Avenhaus, R.; Beedgen, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170015634
Seiten 299-303
Erscheinungsvermerk 3rd Annual Symp.on Safeguards and Nuclear Material Management, Proc., Karlsruhe, May 6-8, 1981 ESARDA-13(1981)
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