Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1987 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170015769 |
Seiten | 278-84 |
Erscheinungsvermerk | Sankar Das, M. [Hrsg.] Trace Analysis and Technological Development : Special and Contrib.Papers pres.at an Internat.Symp., Bombay, IND, February 16-19, 1981 New Delhi [u.a.] : Wiley Eastern Ltd, 1983. - |