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Planar defects in Nb₃Ge and hexagonal Nb₅Ge₃

Arita, M.; Nissen, H.U.; Schauer, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1986
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170022714
Seiten 861-862
Erscheinungsvermerk 11th Internat.Congress on Electron Microscopy, Kyoto, J, August 31 - September 7, 1986 Proc.
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