Planar defects in Nb₃Ge and hexagonal Nb₅Ge₃

Arita, M.; Nissen, H. U.; Schauer, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1986
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170022714
Seiten	861-862
Erscheinungsvermerk	11th Internat.Congress on Electron Microscopy, Kyoto, J, August 31 - September 7, 1986 Proc.