XPS analysis as diagnostic tool for native and artificial tunnel barriers
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Kernphysik (IK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1986 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170023014 |
| Seiten | 6-8 |
| Erscheinungsvermerk | Bevk, J. [Hrsg.] Proc.of the Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, Ma., December 1-6, 1986 Pittsburgh : Materials Research Society 1986 |