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XPS analysis as diagnostic tool for native and artificial tunnel barriers

Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1986
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170023014
Seiten 6-8
Erscheinungsvermerk Bevk, J. [Hrsg.] Proc.of the Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, Ma., December 1-6, 1986 Pittsburgh : Materials Research Society 1986
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