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The determination of lattice parameters and strains in stressed thin films using X-ray diffraction: extensions

Haase, E. L.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170024966
HGF-Programm 13.01.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten 191-98
Erscheinungsvermerk Hasek, J. [Hrsg.] X-Ray and Neutron Structure Analysis in Materials Science, Proc., Karlovy Vary, CS, October 5-9, 1987 New York [u.a.] : Plenum Publ. 1989
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