The determination of lattice parameters and strains in stressed thin films using X-ray diffraction: extensions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170024966 |
| HGF-Programm | 13.01.02 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 191-98 |
| Erscheinungsvermerk | Hasek, J. [Hrsg.] X-Ray and Neutron Structure Analysis in Materials Science, Proc., Karlovy Vary, CS, October 5-9, 1987 New York [u.a.] : Plenum Publ. 1989 |