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Identifying system states near to failure

Nakashima, K.; Weber, G. G.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170024992
Seiten 79-81
Erscheinungsvermerk Hamza, M.H. [Hrsg.] Reliability and Quality Control : Proc.IASTED Internat.Conf., Paris, F, July 24-26, 1987 Anaheim [u.a.] Acta Pr., 1987. -
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