Zugehörige Institution(en) am KIT | Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1987 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170025420 |
HGF-Programm | 12.05.03 (Vor POF, LK 01) |
Seiten | 269-72 |
Erscheinungsvermerk | De Hoo, S.C. [Hrsg.] Technology Assessment - An Opportunity for Europe Proc.of an European Congress in Amsterdam, Vol. 2 |