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Early failure diagnosis for systems which are in operation

Nakashima, K.; Weber, G.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170028129
HGF-Programm 50.01.02; LK 01
Seiten 65-68
Erscheinungsvermerk Hamza, M.H. [Hrsg.] 5th IASTED Internat.Conf. - Reliability and Quality Control : Proc.of the IASTED Internat.Symp., Lugano, CH, June 20-22, 1989 Anaheim [u.a.] : Acta Pr., 1989
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