Elektronenmikroskopischer Nachweis von Stoechiometrieschwankungen in Mikrobereichen von 123-, La₂₋ₓSrₓCuO₄ und BI-HTSL-Kristallen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170033370 |
| HGF-Programm | 34.01.03 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 760-63 |
| Erscheinungsvermerk | Supraleitung und Tieftemperaturtechnik : Statusseminar, Potsdam, 21.-23.September 1992 Duesseldorf : VDI-Verl., 1993 |