Chemical characterisation in depth-profiling of organic material. Part I: Nitrogen, oxygen and halogenes in organic compounds. Part II: Recognition of hydrocarbon structure of organic compounds
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170034672 |
| HGF-Programm | 22.02.05 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 768-75 |
| Erscheinungsvermerk | Benninghoven, A. [Hrsg.] Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS IX) : Proc.of the 9th Internat.Conf., Yokohama, J, November 7-12, 1993 Chichester [u.a.] : John Wiley and Sons, 1994 |