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Prüfung von CAD - Austauschprozessoren. 4-Stufen-Plan: Synergie von Entwickler und Prüfinstanz

Schanz, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Ingenieurtechnik (HIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 170035715
HGF-Programm 52.01.16; LK 01
Erscheinungsvermerk 10.Internat.Fachmesse fuer Computer in Planung, Konstruktion und Fertigung und 5.Internat.Fachmesse und Kongreß fuer Qualitätssicherung, Stuttgart, 17.-20.Mai 1994 Tagungsband Stuttgart : Messe- und Kongreßgesellschaft mbH, 1994
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