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Visual tree assessment and related testing methods

Bethge, K.; Mattheck, C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170036553
HGF-Programm 22.01.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten 176-82
Erscheinungsvermerk 9th Internat.Symp.on Nondestructive Testing of Wood, Madison, Wis., September 1993 Proc.
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