Characterisation of chemical nitrogen with SIMS during depth profiling of allergic pollen treated with NO₂
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170037988 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 835-38 |
| Erscheinungsvermerk | Benninghoven, A. [Hrsg.] Secondary Ion Mass Spectrometry : SIMS X ; Proc.of the 10th Internat.Conf., Münster, October 1-6, 1995 Chichester : John Wiley and Sons, 1997 |