Combined use of SNMS and SIMS for depth-resolved analysis of organic matter within environmental microparticles

Bentz, J. W. G.; Goschnick, J.; Schuricht, J.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170037991
HGF-Programm	22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Seiten	341-44
Erscheinungsvermerk	Mathieu, H.J. [Hrsg.] ECASIA '95 : Proc.of the 6th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis, Montreux, CH, October 9-13, 1995 Chichester [u.a.] : Wiley, 1996