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Combined use of SNMS and SIMS for depth-resolved analysis of organic matter within environmental microparticles

Bentz, J.W.G.; Goschnick, J.; Schuricht, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170037991
HGF-Programm 22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Seiten 341-44
Erscheinungsvermerk Mathieu, H.J. [Hrsg.] ECASIA '95 : Proc.of the 6th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis, Montreux, CH, October 9-13, 1995 Chichester [u.a.] : Wiley, 1996
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