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Zerstörungsfreie Prüfung von Mikrostrukturen und Schichtsystemen mit photothermischen Methoden

Rohde, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 170038140
HGF-Programm 41.02.04 (Vor POF, LK 01)
Seiten 245-53
Erscheinungsvermerk Werkstoffprüfung : 1995 ; Tagung, Bad Nauheim, 5.-6.Dezember 1995 Berlin : Deutscher Verband f.Materialforschung und -prüfung e.V., 1995
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