Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1996 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | KITopen-ID: 170039158 |
HGF-Programm | 31.02.02 (Vor POF, LK 01) |
Seiten | 31-36 |
Erscheinungsvermerk | Rastermikroskopie in der Materialprüfung : Vorträge der 17.Tagung, Halle, 27.-29.März 1996 Berlin : Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V., 1996 |