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Application of the SECM to the analysis of microstructured polybithiophene

Thies, A.; Morgenstern, T.; Michaelis, A.; Schultze, J.W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170039628
HGF-Programm 90; LK 01
Seiten 2-51
Erscheinungsvermerk 49th Annual Meeting of the Internat.Society of Electrochemistry, Xiamen, China, August 28 - September 1, 1995 Extended Abstracts Vol. 1
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