Application of the SECM to the analysis of microstructured polybithiophene

Thies, A.; Morgenstern, T.; Michaelis, A.; Schultze, J. W.

Seitenaufrufe: 14
seit 08.12.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170039628
HGF-Programm	90 (Vor POF, LK 01)
Seiten	2-51
Erscheinungsvermerk	49th Annual Meeting of the Internat.Society of Electrochemistry, Xiamen, China, August 28 - September 1, 1995 Extended Abstracts Vol. 1