Ion diode diagnostics to resolve beam quality issues

Bluhm, H.; Arzhannikov, A.; Buth, L.; Hoppe, P.; Licht, V.; Matveenko, A.; Rusch, D.; Stoltz, O.; Singer, J.; Singleton, C.; Tauschwitz, A.; Väth, W.; Yoo, S.

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Bluhm, H.; Arzhannikov, A.; Buth, L.; Hoppe, P.; Licht, V.; Matveenko, A.; Rusch, D.; Stoltz, O.; Singer, J.; Singleton, C.; Tauschwitz, A.; Väth, W.; Yoo, S.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Neutronenphysik und Reaktortechnik (INR)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170039827
HGF-Programm	51.03.01 (Vor POF, LK 01)
Seiten	1127-30
Erscheinungsvermerk	Jungwirth, K. [Hrsg.] Beams '96 : Proc.of the 11th Internat.Conf.on High-Power Particle Beams, Praha, CR, June 10-14, 1996 Vol. 2 Praha : Academy of Sciences of the Czech Republic, 1996

Repository KITopen

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