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Depth-profiling of double layers for catalytic tuning of gas-sensing devices

Zudock, F.; Goschnick, J.; Bruns, M.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170042130
HGF-Programm 41.05.01 (Vor POF, LK 01)
Seiten 1023-26
Erscheinungsvermerk Olefjord, I. [Hrsg.] ECASIA 97 : 7th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis, Göteborg, S, June 16-20, 1997 Chichester [u.a.] : John Wiley and Sons, 1997
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