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Improved chemical characterization in depth-profiling of complex environmental material using the kinetic energy distributions of sputtered ions

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170042135
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Seiten 755-58
Erscheinungsvermerk Gillen, G. [Hrsg.] Secondary Ion Mass Spectrometry : SIMS XI ; Proc.of the 11th Internat.Conf., Orlando, Fla., September 7-12, 1997 Chichester [u.a.] : John Wiley and Sons, 1998
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