Calibration of depth profiles of environmental material obtained with plasma-based SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170042136 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 1077-80 |
| Erscheinungsvermerk | Gillen, G. [Hrsg.] Secondary Ion Mass Spectrometry : SIMS XI ; Proc.of the 11th Internat.Conf., Orlando, Fla., September 7-12, 1997 Chichester [u.a.] : John Wiley and Sons, 1998 |