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Temperature dependent measurement of surface diffusion constants by application of the scanning force microscope

Göbel, H.; Blanckenhagen, P. von; Schommers, W.; Ehrlich, K.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170042459
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Seiten 685
Erscheinungsvermerk Michel, B. [Hrsg.] Proc.of the Internat.Conf.and Exhibition Micro Materials : Micro Mat '97, Berlin, April 16-18, 1997 Dresden : dpp Goldenbogen, 1997
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