ARXPS-, SEM- and SFM-studies of galvanic deposited, sputtered and evaporated Au films
Henzi, P.; Regier, M.; Bade, K.
; Paoli, M. de; Halbritter, J.
; Paoli, M. de; Halbritter, J.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170043918 |
| HGF-Programm | 41.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 115 |
| Erscheinungsvermerk | 10.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik (AOFA10), Kaiserslautern, 6.-10.September 1998 Beitragskurzfassungen |