Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1999 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170044337 |
HGF-Programm | 21.11.02 (Vor POF, LK 01) |
Seiten | 222-33 |
Erscheinungsvermerk | Vo-Dinh, T. [Hrsg.] Environmental Monitoring and Remediation Technologies, Hynes Convention Center, Boston, Mass., November 2-5, 1998 Bellingham, Wash.: Soc.of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1999 (SPIE Proceedings Series; 3534) |