KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Stress analysis in thin graded Al₂O₃/ZrO₂ TBC systems

Leushake, U.; Yang, Y.Y.; Schaller, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170044870
HGF-Programm 41.03 (Vor POF, LK 01)
Seiten 936-41
Erscheinungsvermerk Functionally Graded Materials : Proc.of the 5th Internat.Symp., Dresden, October 26-29, 1998 Uetikon-Zürich : Trans Tech Publ., 1999 (Materials Science Forum ; 308-311)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page