Robust miniaturized multi-ion sensors for potentiometric measurements

Diekmann, C.; Dimitrakopoulos, T.; Keller, W.; Hoffmann, W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	1999
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 1-56677-246-X KITopen-ID: 170046231
HGF-Programm	41.06.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten	178-81
Erscheinungsvermerk	Butler, M. [Hrsg.] Chemical Sensors IV : Proc.of the Symp., Honolulu, Hawaii, October 17-22, 1999 Pennington, N.J. : Electrochemical Soc., 1999 (Proceedings / Electrochemical Society ; 99-23)