Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1999 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170046509 |
HGF-Programm | 41.04.04 (Vor POF, LK 01) |
Seiten | 1038-45 |
Erscheinungsvermerk | Courtois, B. [Hrsg.] Design, Test, and Microfabrication of MEMS and MOEMS : Paris, F, March 30 - April 1, 1999 Bellingham, Wash. : SPIE, 1999 (SPIE Proceedings Series ; 3680) |