Nondestructive testing and determination of thermal parameters in thin films and microcomponents
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170046678 |
| HGF-Programm | 41.03 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 17-22 |
| Erscheinungsvermerk | THERMINIC : Collection of Papers Pres.at the 5th Internat.Workshop on Thermal Investigations of ICs and Microstructures, Roma, I, October 3-6, 1999 Grenoble : Laboratoire TIMA, 1999 |