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Non-destructive characterisation of HTSC wafer homogeneity by mm-wave surface resistance measurements

Heidinger, R.; Schwab, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170046713
HGF-Programm 34.01.04; LK 01
Seiten 89-92
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity 1999 : Proc.of the 4th European Conf., Sitges, E, September 14-17, 1999 Bristol [u.a.] : IOP Publ., 2000 (Institute of Physics Conference Series ; 167)
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