Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 1999 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170046879 |
HGF-Programm | 43.01.02 (Vor POF, LK 01) |
Seiten | 11-30 |
Erscheinungsvermerk | Cohen, S.H. [Hrsg.] Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy : 3 ; Proc.of a AFM/STM Symp. New York [u.a.] : Plenum Press, 1999 |