Applications of scanning probe microscopy in materials science: examples of surface modification and quantitative analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170046879 |
| HGF-Programm | 43.01.02 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 11-30 |
| Erscheinungsvermerk | Cohen, S.H. [Hrsg.] Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy : 3 ; Proc.of a AFM/STM Symp. New York [u.a.] : Plenum Press, 1999 |