Local fracture toughness evaluation of 316LN plate at cryogenic temperature

Nishimura, A.; Ogata, T.; Shindo, Y.; Shibata, K.; Nyilas, A.; Walsh, R. P.; Chan, J. W.; Mitterbacher, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170048377
HGF-Programm	31.03.09 (Vor POF, LK 01)
Seiten	33-40
Erscheinungsvermerk	Balachandran, U.B. [Hrsg.] Proc.of the Internat.Cryogenic Materials Conf., Montreal, CDN, July 12-15, 1999 New York, N.Y. [u.a.] : Kluwer Acad./Plenum Publ., 2000 Part A (Advances in Cryogenic Engineering Materials ; 46A)