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Improved extraction of planar segments for scanned surfaces

Sacchi, R.; Poliakoff, J. F.; Thomas, P. D.; Häfele, K. H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170048723
HGF-Programm 21.15.04 (Vor POF, LK 01)
Seiten 325-30
Erscheinungsvermerk Banissi, E. [Hrsg.] Proc.of the IEEE Internat.Conf.on Information Visualisation, London, GB, July 19-21, 2000 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Soc., 2000
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