| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170049004 |
| HGF-Programm | 32.22.04 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 9-18 |
| Erscheinungsvermerk | Bauteilprüfung im Mikro- und Nanobereich : 19.Tagung des DVM Arbeitskreises MNP, Mülheim, 28.-29.November 2000 Berlin : Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V., 2000 (DVM-Berichte ; 519) |