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Further aspects on J-evaluation demonstrated with EDM notched round bars and double-edged plates between 300 and 7 K

Nyilas, A.; Nishimura, A.; Obst, B.



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seit 23.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170049749
HGF-Programm 33.01.03 (Vor POF, LK 01)
Seiten 131-38
Erscheinungsvermerk Balachandran, B. [Hrsg.] Proc.of the Internat.Cryogenic Materials Conf. : ICMC, Madison, Wis., July 16-20, 2001 Melville, N.Y. : AIP, 2002 (AIP Conference Proceedings ; 614) (Advances in Cryogenic Engineering ; 48A)
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