Investigation of the recrystallisation kinetics of Ni and NiCr substrate tapes for coated conductors by means of DSC, X-ray diffraction and EBSD
Goldacker, W.; Nast, R.; Schauer, W.; Obst, B.; Deboer, B.; Reger, N.; Holzapfel, B.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170049781 |
| HGF-Programm | 33.01.01 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 83-85 |
| Erscheinungsvermerk | 2001 Internat.Workshop on Superconductivity (The 5th Joint ISTEC/MRS Workshop), Honolulu, Hawaii, June 24-27, 2001 Extended Abstracts |