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Dielectric property measurements at elevated temperatures based on open resonators

Heidinger, R.; Meier, A.; Burbach, J.; Schwab, R.; Spörl, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170050874
HGF-Programm 31.04.04; LK 01
Seiten 186-90
Erscheinungsvermerk MIOP : The German Wireless Week, Microwaves and Optronics ; 11th Conf.and Exhibition on Microwaves, Radio Communication and Electromagnetic Compatibility, Stuttgart, May 8-10, 2001 Hagenburg : NETWORK-OSE GmbH, 2001
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