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Neues vom Fractometer II

Kappel, R.; Mattheck, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 170053140
HGF-Programm 11.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 8.VTA Spezialseminar 'Messen und Beurteilen am Baum', Karlsruhe, 16.-17.April 2002 Seminarband
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