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Behavioural modeling of medical test strips for optimisation

Nüssen, O.; Bolte, H.; Peters, D.; Laur, R.; Halstenberg, S.; Eggert, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170053147
HGF-Programm 41.09.01 (Vor POF, LK 01)
Seiten 385-93
Erscheinungsvermerk Courtois, B. [Hrsg.] Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS 2002, Cannes, F, May 6-8, 2002 Bellingham, Wash. : SPIE, 2002 (SPIE Proceedings Series ; 4755)
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