Behavioural modeling of medical test strips for optimisation

Nüssen, O.; Bolte, H.; Peters, D.; Laur, R.; Halstenberg, S.; Eggert, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2002
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170053147
HGF-Programm	41.09.01 (Vor POF, LK 01)
Seiten	385-93
Erscheinungsvermerk	Courtois, B. [Hrsg.] Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS 2002, Cannes, F, May 6-8, 2002 Bellingham, Wash. : SPIE, 2002 (SPIE Proceedings Series ; 4755)