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A novel sorbent material test device at variable cryogenic temperatures

Day, C.; Hauer, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170054430
HGF-Programm 31.30.02 (POF I, LK 01)
Seiten 75-82
Erscheinungsvermerk Waynert, J. [Hrsg.] Transactions of the Internat.Cryogenic Materials Conf.(ICMC), Anchorage, Alaska, September 22-26, 2003 Melville, N.Y. : AIP, 2004 (AIP Conference Proceedings ; 711) (Advances in Cryogenic Engineering Materials ; 50A)
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