KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Fabrication conditions and detecting properties of a metal oxide gradient microarray based on nanocrystalline tin dioxide

Goschnick, J.; Betsarkis, K.; Schneider, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-8007-2791-9
KITopen ID: 170055701
HGF-Programm 41.05.01; LK 01
Seiten 221-24
Erscheinungsvermerk MICRO.tec 2003 : Applications - Trends - Visions ; Proc.of the 2nd VDE World Microtechnologies Congress, München, October 13-15, 2003 Berlin [u.a.] : VDE Verl.GmbH, 2003 Incl.CD-ROM
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page